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2026-09-14
碳化硅(SiC)等第三代半导体功率器件制造涉及外延、光刻、刻蚀等工艺,微粒子与温湿度直接影响器件良率,生产需在高洁净环境进行。碳化硅半导体洁净室检测确认环境满足工艺要求。
检测内容:
- 悬浮粒子(各洁净等级)
- 温湿度
- 压差
- 换气次数与风速
- 气流组织

- 关键制程洁净等级控制
- 温湿度稳定与防静电
- 人员与物料进出管理
- 高架地板与回风系统维护
- 新建产线竣工验收
- 年度环境检测与过滤器检漏
- 工艺调整、改造后复测
- 良率异常时排查环境因素
江苏沛询技术有限公司持有CMA资质认定,提供碳化硅半导体洁净室检测、SiC功率器件生产环境验证服务。
